Keysight WaferPro Xpress 2020.1 x64 半導體元件核心量測 英文版
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光碟片數:單片裝(單面DVD)
破解說明:見光碟內的安裝說明
系統支援:適用64位元的Windows7/8.1/10
軟體類型:半導體元件核心量測
更新日期:2020.11.03
軟體發行:KeysightTechnologies
官方網站:https://www.keysight.com/en/pc-2400412/waferpro-express-on-wafer-measurement-program-software?cc=TW
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WaferProExpress軟體能夠對電晶體和電路元件等半導體元件，執行自動晶圓級
量測，並可提供完整的驅動程式和測試常式，以支援各種儀器和晶圓探棒。其全新
的操作介面使得設定和執行複雜的晶圓級測試方案變得非常簡單。新的Python程
式設計環境還可支援強大的客製功能。

WaferProExpress是我們與CascadeMicrotech攜手合作的產物，也是晶圓級量
測解決方案（WMS）的核心軟體。WMS產品可加快進行首次量測的速度，並提供精
確和可重複的裝置和元件特性分析。如欲瞭解更多資訊，請參見晶圓級量測解決方
案CascadeMicrotech。

WaferProExpress的主要特性
擁有全套測試演算法和儀器驅動程式，可以縮短軟體學習時間，加快量測系統的設
定過程，讓您更快開始首次量測

現代化和直覺的操作介面方便您快速連接儀器，並確定測試計畫。為了進一步提高
效率，該軟體還與CascadeMicrotechNucleus和WinCalXE軟體相整合，以便
進行探量台控制和自動射頻校驗

與CascadeMicrotech的最新控制軟體Velox2進行了獨家整合。WaferPro和
Velox之間的全新WaferSync介面，可支援完整的晶圓映射同步功能，並能在測
試方案執行期間，自動監測射頻校驗

如需處理大量資料時，DataDisplay、WaferMappingDataViewer和SQL資料
庫等先進工具可以顯著提高生產率。此外，Python/PEL程式設計環境讓您可以客
製測試演算法和分析量測資料

WaferProExpress是先進低頻雜訊分析儀（A-LFNA）的正式軟體平台。先進低頻
雜訊分析儀專為進行精確且可重複的低頻雜訊量測而設計

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